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NEC NEC長野
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ホーム > 信頼性試験 > 各種評価設備について
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製品、部品、ユニット、モジュールの信頼性評価

信頼性試験

各種評価設備について

ここでは、主な評価設備について簡単にご紹介します。

恒温恒湿槽、熱衝撃試験機関係

温度や湿度をコントロールした環境評価試験に用います。

  • 大型恒温恒湿室、低湿度室
  • 小型恒温槽
  • 冷熱衝撃試験槽

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット、部品等に関する温度環境試験
  • 高温試験、低温試験、湿度試験
  • 各種動作試験、放置(保管)試験 、温湿度サイクル試験
  • 接続抵抗評価
  • 冷熱衝撃試験(ヒートサイクル試験)
  • 熱加速試験、基盤実装信頼性評価
大型恒温槽 温度範囲
湿度範囲
サイズ
-30℃~+80℃
10%~95% RH
3,020×2,500×1,900mm (W.D.H)
小型恒温槽 温度範囲
湿度範囲
サイズ
-60℃~+200℃
10%~95% RH
600×800×850mm (W.D.H)
冷熱衝撃試験槽 温度範囲
槽内サイズ
衝撃方式
-70℃~+200℃
650×460×370mm (W.D.H)
( 2ゾーンまたは3ゾーン方式 )
大型恒温恒湿室 冷熱衝撃試験装置
大型の恒温恒湿室 熱衝撃試験機

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輸送環境試験関係

製品、ユニット、車載機器等の各種輸送試験、衝撃試験、落下試験に用います。

  • 水平振動試験装置
  • 垂直振動試験装置
  • 落下試験装置

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット、部品等に関する輸送環境試験
  • 車載振動試験
  • 振動試験(サイン波、ランダム波、ポイント振動)
  • ショック波試験
  • 振動特性評価試験、共振点探査試験
  • 包装落下試験、ユニット単体落下試験
  • 落下衝撃加速度測定試験(G値測定)
垂直振動試験装置 周波数範囲
供試品重量
試験台面積
5Hz~1,000Hz
220kg
1,000×1,000mm
水平振動試験装置 周波数範囲
供試品重量
試験台面積
1Hz~2,300Hz
2000kg
1,200×1,100mm
落下試験装置 落下高さ
供試品重量
最大1,200mm
100kg
垂直振動試験装置 水平振動試験装置
垂直振動試験機 水平振動試験機
電子部品用CUBE型治具
電子部品、車載ユニットの振動試験

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衝撃試験関係

各種製品、ユニットの等価衝撃落下試験に用います。

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット、部品等に関する等価衝撃落下試験
  • 連続疲労試験、破壊試験
供試品重量 200kg
加速度 7G~300G
作用時間 3ms~45ms
試験台面積 920×1,000mm
衝撃試験装置
加速度衝撃試験機

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各種機構部耐久試験関係

製品、ユニット開閉、挿抜、回転等の各種耐久試験に用います。

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット等の開閉部 耐久試験
  • 各種ケーブル、コネクタ、PCカード等の特殊挿抜耐久試験
  • 各種ケーブルの捻転試験(~360°)
  • ノート型表示部の開閉耐久試験
  • その他特殊耐久試験
耐久試験装置 開閉耐久試験装置
耐久試験機 開閉耐久試験機

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半無響室関係

壁、天井の5面を吸音性に仕上げた実験室で音圧レベルやノイズの試験に用います。

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット、部品等に関する騒音測定試験
  • ナビゲーション等の音声認識機能評価試験
内寸 2,100×2,100×2,250mm
遮音量 56dB (1kHz)
床面耐荷重 200kg/m2
半無響室関係
半無響室

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寿命試験室関係

製品、ユニットの短期~長期寿命試験に用います。

主な評価試験例

  • 常温~高温下における、製品、ユニットの短期~長期連続動作試験
  • 常温~高温下における、製品、ユニットの短期~長期断続(ON/OFF)動作試験
  • 常温~高温下における、製品、ユニットの動作画像の録画撮影確認
室内寸法 10m×6m×2.5m (W.D.H)
室温 常温~40℃前後に任意設定可能
電源 100V~260V 連続~1min  ON/OFF設定可能
寿命試験室
ライフ試験室

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超高解像度 X線TV検査(非破壊検査)関係

X線による半導体や部品等の非破壊検査、 BGA・CSPなどのはんだ付け性評価、解析に用います。

主な評価試験例

  • 半導体内におけるボンディング解析、 パターン検査等の非破壊検査
  • 製品、部品のX線透過検査
  • BGA、CSPのはんだボールに関するブリッジ ボイド、マイクロクラック評価
  • その他部品、材料等の非破壊検査(画像印刷、 PC上で画像加工可)
X線検査装置
X線TV検査装置(透視)

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エネルギー分散 蛍光X線分析関係

WEEE&RoHS等、部品や材料等に含まれる物質の元素分析に用います。

主な評価試験例

  • 部品や材料等に含有される物質の元素分析
  • RoHS指令等対応による6物質の定性分析
     RoHS指令 特定有害物質
      (1) 六価クロム
      (2) 水銀
      (3) カドミウム
      (4) 鉛
      (5) ポリ臭素化ビフェニル(PBB)
      (6) ポリ臭素化ジフェニルエーテル(PBDE)
蛍光X線分析装置
蛍光X線分析装置

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部品、基板、はんだ関係 断面解析評価 関係

部品、基板、鉛フリーはんだ等の断面解析評価に用います

主な評価試験例

  • 共晶はんだ、鉛フリーはんだ等の断面解析による、はんだ接続性評価試験
  • 部品、基板等の断面解析評価試験
  • 表面実装部品の(SOP、QFP、BGA、LGA等)のはんだ接合部の断面解析
  • 部品、基盤等の熱衝撃実施後のはんだ接合部解析
  • デバイス関係のはんだ引き剥がし、せん断試験(プル・シェア試験)
  •  
SMD 断面観察例 THD 断面観察例
表面実装 断面解析例 スルーホール 断面解析例

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その他評価試験関係

上記、および下記の試験以外にも各種評価試験が可能ですので、いつでもお気軽にお問い合わせください。

ケーブル屈曲試験装置 各種ケーブルの屈曲、ねじり試験用装置
打鍵試験装置 キーボード、リモコン等の打鍵試験用装置
粉塵試験装置 セット、ユニット等の耐塵埃性能の試験用装置
燃焼試験装置 部品、モールド等の燃焼試験用装置
耐油性試験装置 車載ユニット等の耐油性評価用 試験装置
各種安全試験装置 安全試験関係の各種試験装置

信頼性試験に関するお問い合わせ

NEC長野 品質保証部 評価技術グループ
電話:0265-76-6235 FAX:0265-78-6609
お問い合わせ

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