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NEC NEC長野
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ホーム > 製品評価 > 各種評価設備について
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製品評価

製品評価

各種評価設備について

ここでは、主な評価設備について簡単にご紹介します。

恒温恒湿槽関係

温度や湿度をコントロールした環境試験に用います。

  • 大型恒温恒湿室、低湿度室
  • 小型恒温槽
  • 冷熱衝撃試験槽

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット、部品等に関する温度環境試験
  • 高温試験、低温試験、湿度試験
  • 各種動作試験、放置(保管)試験 、温湿度サイクル試験
  • 冷熱衝撃試験(ヒートサイクル試験、等)
大型恒温槽 温度範囲
湿度範囲
サイズ
-30℃~+80℃
10%~95% RH
3,020×2,500×1,900mm (W.D.H)
小型恒温槽 温度範囲
湿度範囲
サイズ
-60℃~+200℃
10%~95% RH
600×800×850mm (W.D.H)
冷熱衝撃試験槽 温度範囲
槽内サイズ
衝撃方式
-70℃~+200℃
650×460×370mm (W.D.H)
2ゾーンまたは3ゾーン方式 )
大型恒温恒湿室 冷熱衝撃試験
大型恒温恒湿室 冷熱衝撃試験槽

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輸送環境試験関係

製品、ユニット、車載機器等の各種輸送試験、衝撃試験、落下試験に用います。

  • 水平振動試験装置
  • 垂直振動試験装置
  • 落下試験装置

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット、部品等に関する輸送環境試験
  • 正弦波(Sin波)振動試験(含 Point振動試験)
  • ランダム波 振動試験
  • ショック波試験
  • 共振点探査試験
  • 包装落下試験、ユニット単体落下試験
  • 落下衝撃加速度(G値)測定試験
垂直振動試験装置 周波数範囲
供試品重量
試験台面積
5Hz~1,000Hz
220kg
1,000×1,000mm
水平振動試験装置 周波数範囲
供試品重量
試験台面積
1Hz~2,300Hz
2000kg
1,200×1,100mm
落下試験装置 落下高さ
供試品重量
最大1,200mm
100kg
垂直振動試験装置 水平振動試験装置
垂直振動試験装置 水平振動試験装置
車載振動試験装置
車載振動試験装置

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衝撃試験関係

各種製品、ユニットの等価衝撃落下試験に用います。

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット、部品等に関する等価衝撃落下試験
供試品重量 200kg
加速度 7G~300G
作用時間 3ms~45ms
試験台面積 920×1,000mm
衝撃試験
衝撃試験

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各種機構部耐久試験関係

製品、ユニット開閉、挿抜、回転等の各種耐久試験に用います。

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット等の開閉部 耐久試験
  • 各種ケーブル、コネクタ、PCカード等の特殊挿抜耐久試験
  • 各種ケーブルの捻転試験(~360°)
  • ノート型表示部の開閉耐久試験
  • その他特殊耐久試験
各種挿抜試験装置 開閉耐久試験装置
各種挿抜試験装置 開閉耐久試験装置

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半無響室関係

製品、ユニット開閉、挿抜、回転等の各種耐久試験に用います。

主な評価試験例

  • 各種製品、ユニット、部品等に関する騒音測定試験
内寸 2,100×2,100×2,250mm
遮音量 56dB (1kHz)
床面耐荷重 200kg/m2
半無響室関係
半無響室関係

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寿命試験室関係

製品、ユニットの短期~長期寿命試験に用います。

主な評価試験例

  • 常温~高温下における、製品、ユニットの短期~長期連続動作試験
  • 常温~高温下における、製品、ユニットの短期~長期断続(ON/OFF)動作試験
  • 常温~高温下における、製品、ユニットの動作画像の録画撮影確認
室内寸法 10m×6m×2.5m (W.D.H)
室温 常温~40℃前後に任意設定可能
電源 100V~260V 連続~1min  ON/OFF設定可能
寿命試験室
寿命試験室

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超高解像度 X線TV検査(非破壊検査)関係

X線による半導体や部品等の非破壊検査、 BGA・CSPなどのはんだ付け性評価、解析に用います。

主な評価試験例

  • 半導体内におけるボンディング解析、 パターン検査等の非破壊検査
  • BGA、CSPのはんだボールに関するブリッジ ボイド、マイクロクラック評価
  • その他部品、材料等の非破壊検査(画像印刷、 PC上で画像加工可)
超高解像度
超高解像度

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エネルギー分散 蛍光X線分析関係

WEEE&RoHS等、部品や材料等に含まれる物質の元素分析に用います。

主な評価試験例

  • 部品や材料等に含有される物質の元素分析
  • RoHS指令等対応による6物質の定性分析
     RoHS指令 特定有害物質
      (1) 六価クロム
      (2) 水銀
      (3) カドミウム
      (4) 鉛
      (5) ポリ臭素化ビフェニル(PBB)
      (6) ポリ臭素化ジフェニルエーテル(PBDE)
  •  
エネルギー分散 蛍光X線分析関係
エネルギー分散 蛍光X線分析関係

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部品、基板、はんだ関係 断面解析評価 関係

部品、基板、鉛フリーはんだ等の断面解析評価に用います

主な評価試験例

  • 共晶はんだ、鉛フリーはんだ等の断面解析による、はんだ接続性評価試験
  • 部品、基板等の断面解析評価試験
  • デバイス、はんだ等の長期接続性試験実施後のはんだ接合部解析 他
  •  
  • デバイス関係のはんだ引き剥がし、せん断試験(プル・シェア試験)
  •  
SMD 断面観察例 THD 断面観察例
SMD 断面観察例 THD 断面観察例

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その他評価試験関係

上記、および下記の試験以外にも各種評価試験が可能ですので、いつでもお気軽にお問い合わせください。

ケーブル屈曲試験装置 各種ケーブルの屈曲、ねじり試験用装置
打鍵試験装置 キーボード、リモコン等の打鍵試験用装置
粉塵試験装置 セット、ユニット等の耐塵埃性能の試験用装置
燃焼試験装置 部品、モールド等の燃焼試験用装置
耐油性試験装置 車載ユニット等の耐油性評価用 試験装置
各種安全試験装置 安全試験関係の各種試験装置

製品評価に関するお問い合わせ

NEC長野 品質保証部 評価技術グループ
電話:0265-76-6235 FAX:0265-78-6609
お問い合わせ

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